CARACTERIZACIÓN MICROESTRUCTURAL DE MATERIALES COMPUESTOS SOLIDIFICADOS DIRECCIONALMENTE

CARACTERIZACIÓN MICROESTRUCTURAL DE MATERIALES COMPUESTOS SOLIDIFICADOS DIRECCIONALMENTE

Los compuestos de matriz metálica (MMCs) reforzados con partículas cerámicas ofrecen una alta resistencia ymódulo de elasticidad, así como también buenas propiedades a alta temperatura comparadas con las de losmateriales convencionales. Las funciones que tiene un material de refuerzo en los MMCs son...

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Título de la revista: Anales de la Asociación Física Argentina
Primer autor: A. Ares
Otros autores: C. Schvezov
Idioma: Español
Enlace del documento: https://anales.fisica.org.ar/journal/index.php/analesafa/article/view/1918
Tipo de recurso: Documento de revista
Fuente: Anales de la Asociación Física Argentina; Vol 24, No 2 (Año 2013).
Entidad editora: Asociación Física Argentina
Derechos de uso: Reconocimiento - NoComercial (by-nc)
Materias: Ciencias Físicas e Ingeniería --> Física
Resumen: Los compuestos de matriz metálica (MMCs) reforzados con partículas cerámicas ofrecen una alta resistencia ymódulo de elasticidad, así como también buenas propiedades a alta temperatura comparadas con las de losmateriales convencionales. Las funciones que tiene un material de refuerzo en los MMCs son las siguientes:soportar las tensiones que se ejercen sobre el compuesto, aumentar las características mecánicas de la matriz, sudureza y resistencia al desgaste (sobre todo en el caso del refuerzo con partículas), mitigar los fallos de estascaracterísticas con el aumento de la temperatura, frenar o detener la propagación de grietas a través del compuestoy el desarrollo de las fisuras. En el presente trabajo se analizan las fases presentes en los compuestos de matriz Zn-Al, reforzados con partículas de SiC y solidificados direccionalmente. Se observa la distribución del reforzante y lainteracción de las partículas de SiC con la matriz de Zn-Al. La caracterización de la microestructura resultante serealiza mediante difracción de rayos X (DRX), microscopía óptica (MO) y microscopía electrónica de barrido(MEB).

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